是一款綜合性能均衡的光譜儀，可在 190–1110nm 全波段范圍內，為各類光譜檢測應用提供科研級檢測結果。采用復合光柵技術，在紫外、近紅外兩端極限波段均能實現高光學效率。超高探測器靈敏度搭載紫外增強型 CCD 探測器，集成熱電制冷器、增益增強模塊與光學透鏡組件，帶來探測靈敏度；長積分工況下噪聲可降低 65% 以上。高分辨率光學性能SILVER-Nova 優化光學架構，搭配 25 微米狹縫即可實現 1nm 光學分辨率。整機采用堅固緊湊型金屬外殼，適用于便攜檢測、在線工業過程監測及實驗室場景。標配熱電制冷，支持雙級制冷 TEC-X2 升級光譜儀內部采用密封隔離式探測器腔體，搭配專用散熱片與導流風道設計，保障制冷穩定、低溫運行。熱電制冷可大幅提升長時間檢測的信號穩定性，避免熱噪聲干擾、淹沒有效信號。標準款 SILVER-Nova 搭載單級熱電制冷（TEC），可降溫至低于環境溫度 15℃；可選配雙級制冷 TEC-X2 升級方案，可降至環境溫度以下 30℃，長積分條件下噪聲降低超 80%，顯著提升儀器信噪比?？筛鼡Q狹縫升級方案儀器光學平臺輸入端支持狹縫自由更換，標配狹縫套裝包含 14μm、25μm、50μm、100μm、200μm 規格：14μm 狹縫用于追求最高分辨率場景，200μm 狹縫適配高靈敏度檢測需求。全新狹縫鎖止結構無需任何工具、螺絲即可完成更換，是市面上具備靈活性的光譜儀產品。堅固耐用機身設計分光主體與控制電路集成于高強度金屬外殼內，拆裝便捷，適配便攜測量、工業在線監測、實驗室及野外現場檢測。機載存儲模塊機身自帶存儲，內置出廠校準參數與儀器預設配置；快照存儲功能可快速讀取 2048 像素高靈敏 CCD 采集的完整光譜圖像。

Silver-Nova Super Range TE 冷卻光譜儀技術規格：

動態范圍：	2000：1覆蓋六個數量級	尺寸	6 x 17 x 15.5厘米
光學分辨率：	1nm縫隙為25um	TEC電源：	隨附5 VDC @ 1A適配器
探測器類型：	2048像素CCD / TE冷卻	接口：	USB2、Wi-Fi、RS232、SPI3、4-20mA 模擬量、數字輸入輸出、以太網
探測器范圍：	190-1110nm	數據傳輸速度：	30 赫茲，選配升級可達 1000 赫茲
像素大小：	14 x 200微米	檢測器集成：	1ms至8min
衍射光柵：	雙重火焰@ 250＆1000nm	狹縫尺寸選項：	14，25，50，100，200 um
光柵刻線密度：	全息600線	雜散光：	在435nm下<0.1％; 在200nm下<0.15％
分光光路	f/4 高分辨率對稱式切爾尼 - 特納光路	級次分選濾光片：	集成式 + 高通濾光片
型號	SILVER-Nova	光纖輸入：	SMA905 0.22 NA單纖
信噪比：	1000：1 CCD	操作系統：	Windows和Linux 2，Andriod 2，iOS 2
配套軟件：SpectraWiz 光譜分析程序；Windows 開發套件（支持 C、C#、VB、Delphi 語言）；可自定義 LabVIEW 驅動；Excel 專用 VBA 插件（支持 CRI 顯色指數、LED 檢測報告生成）

SILVER-Nova寬波段制冷TEC光譜儀標準規格參數一覽：

規格	波長范圍（nm）	狹縫200 um 分辨率(nm)	狹縫100 um 分辨率(nm)	狹縫50 um 分辨率(nm)	狹縫25 um 分辨率(nm)	狹縫14 um 分辨率(nm)

SILVER-Nova	190-1110	8	4	2	1	0.75