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BLACK-Comet-HR高分辨率光柵光譜儀

簡要描述:BLACK-Comet-HR高分辨率光柵光譜儀,分辨率優于0.4nm。采用無反射鏡設計,雜散光極低,支持紫外 -可見光檢測。具備USB供電、抗震耐用及16位精度,適用于精密光譜分析。

基礎信息

產品型號

BLK-C-HR

廠商性質

代理商

更新時間

2026-07-23

瀏覽次數

34
詳細介紹
品牌StellarNet雜散光435nm處0.02%;200 nm 處 0.2%
F/#F/2波長范圍200-750nm
光譜分辨率0.40nm價格區間1萬-5萬
光柵數量光柵臺產地類別進口
應用系統熒光光譜應用領域環保,化工,電子/電池,制藥/生物制藥,綜合

BLACK-Comet-HR高分辨率光柵光譜儀產品介紹:

測量光譜范圍可選:190–850 nm 或 280–900 nm

采用高性能凹面光柵光學結構,適用于紫外 - 可見光檢測場景

無反射鏡光路設計,實現超低雜散光,具備優異光譜成像效果

增強型紫外靈敏度 + 平場成像,保證全波段分辨率均勻

無需光學調試,具備熱穩定性與結構耐用性

可選熱電制冷探測器(TEC)升級,信噪比提升 60%

BLACK-Comet-SR(超寬量程型):適用于寬光譜檢測,波段 200–1100 nm

BLACK-Comet-HR(高分辨率型):高分辨率應用,分辨率優于 0.4 nm

BLACK-Comet系列的最新成員:BLACK-Comet-HR。該新型BLACK-Comet-HR光譜儀專為高分辨率應用設計,支持紫外(200-600nm)和可見光(380-750nm)兩個測量范圍,分辨率為0.4納米。這款16位凹面光柵光譜儀采用USB-2供電,抗震且抗振動,無活動部件,內置SpectraWiz®光譜儀軟件和開發套件。BLACK-Comet紫外-可見光譜儀采用直徑40毫米的凹面光柵,帶有像差校正功能,提供光譜成像效果。這顯著改善了光譜形狀,減少平面光柵光譜儀設計中的逗號和散光。光譜儀架構不使用鏡子,因此在全息光柵的輔助下,能夠提供紫外中盡可能低的雜散光。凹面光柵在CCD探測器上產生平坦的場,從而在整個范圍內實現均勻分辨率。

BLACK-Comet-HR高分辨率光柵光譜儀模型選擇:

BLACK-Comet光譜范圍 (nm)光柵 g / mm狹縫,光譜分辨率 14 nm
BLK-C-HR-UV200-6005900.40
BLK-C-HR-VIS380-7505900.40


技術規格:

Specifications: BLACK-Comet Spectrometers
動態范圍:
2000:1,6 個數量級外形尺寸:69 x 100 x 150 mm
光學分辨率:
14μm 狹縫,分辨率<0.4 nm功耗:直流 5V,100mA
探測器類型:2048 像素 CCD 光電陣列(PDA)通訊接口:USB-2
探測波段:
UV=200-600nm or VIS=350-750nm數據傳輸速度:相比 USB1.0 提升 3~40 倍
像素尺寸:
14 um x 200 um探測器積分時間:1 ms to 65 s
凹面光柵:消像差校正型可選狹縫規格:14, 25, 50, 100, 200 um
光柵類型:全息光柵, 590 g/mm雜散光:435nm 處 0.02%;200nm 處 0.2%
分光系統:f/2 平場光路,無反射鏡設計光纖輸入:
SMA905 接口,0.22 數值孔徑單芯光纖
級次分選濾光片內置多波段濾光組件支持操作系統:Win XP, Vista, 7, 8, & 10
信噪比:1000:1 CCD, PDA 2000:1配套軟件:SpectraWiz program & apps
數字化精度:16-bit免費開發接口:LabView / VC / VBA / Delphi




BLACK-Comet-HR高分辨率光柵光譜儀

光學計量與色度測量

BLACK-Comet 紫外 - 可見光光譜儀 CXR-25 型號(后綴 - 25 代表狹縫規格),搭配 SL1 鎢鹵光源、TXF-4 透射測試夾具、兩根 F600-VIS-NIR 光纖,測量藍色塑料薄膜透射光譜,可輸出 CIELAB 色彩空間色度數據。前往色度測量專題頁面查看詳情。







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